[发明专利]一种黑体绝对发射率的测量装置及方法有效
| 申请号： | 201711248870.0 | 申请日： | 2017-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN108037095B | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 冯国进;吴厚平;林延东 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01N21/39 | 分类号： | G01N21/39;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;李相雨 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种黑体绝对发射率的测量装置，包括量子级联激光器、红外透镜、积分球和变口径光阑；所述积分球上设置有第一窗孔和第二窗孔；所述量子级联激光器、所述红外透镜、所述第一窗孔、所述第二窗孔和所述变口径光阑依次排列，位于同一轴线上，并且所述轴线经过所述积分球的球心；黑体可拆卸地安装在所述变口径光阑上。本发明提供的黑体绝对发射率的测量装置，采用量子级联激光器作为光源，通过红外透镜调节入射到黑体内部的光束，通过测量黑体吸收比的方式，根据能量守恒，得出黑体的绝对发射率。该装置结构简单，测量结果精准，可测量不同波长处的黑体的绝对发射率，实用性强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 黑体 绝对 发射 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种黑体绝对发射率的测量装置，其特征在于，包括：量子级联激光器、红外透镜、积分球和变口径光阑；所述积分球上设置有第一窗孔和第二窗孔；所述量子级联激光器、所述红外透镜、所述第一窗孔、所述第二窗孔和所述变口径光阑依次排列，位于同一轴线上，并且所述轴线经过所述积分球的球心；所述黑体可拆卸地安装在所述变口径光阑上。
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