[发明专利]电子元器件的检测方法及系统在审
| 申请号： | 201711250240.7 | 申请日： | 2017-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN107765171A | 公开（公告）日： | 2018-03-06 |
| 发明（设计）人： | 邵敏;韩熔 | 申请（专利权）人： | 邵敏;韩熔 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京冠和权律师事务所11399 | 代理人： | 朱健,陈国军 |
| 地址： | 050000 河北省*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种元器件的检测方法及系统，针对待检测的集成电路器件，利用ASA曲线测试法，对所述集成电路器件进行检测，得到所述集成电路器件各管脚分别对应的ASA曲线；识别得到的所有ASA曲线中是否存在不稳定曲线；若识别出存在不稳定的ASA曲线，则从所述集成电路器件的管脚中选取对应的测试参考脚，再次对所述集成电路器件进行检测，得到不稳定曲线消除后的ASA曲线；根据得到的不稳定曲线消除后的ASA曲线，判断检测的所述集成电路器件是否发生故障；具有消除利用ASA曲线检测IC器件时所出现的不稳定曲线的有益效果，提高了故障检测准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种电子元器件的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：针对待检测的集成电路器件，利用ASA曲线测试法，对所述集成电路器件进行检测，得到所述集成电路器件各管脚分别对应的ASA曲线；识别得到的所有ASA曲线中是否存在不稳定曲线；若识别出存在不稳定的ASA曲线，则从所述集成电路器件的管脚中选取对应的测试参考脚，并根据选取的所述测试参考脚，采用与所述测试参考脚相匹配的消除不稳定曲线的测试方法，再次对所述集成电路器件进行检测，得到不稳定曲线消除后的ASA曲线；根据得到的不稳定曲线消除后的ASA曲线，判断检测的所述集成电路器件是否发生故障。
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