[发明专利]一种温度自动控制装置测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 201711273134.0 申请日: 2017-12-06
公开(公告)号: CN107908178A 公开(公告)日: 2018-04-13
发明(设计)人: 周文杰;谭振中;周全;阳建华 申请(专利权)人: 湖南航天远望科技有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司43113 代理人: 郭立中
地址: 410205 *** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供一种温度自动控制装置测试系统,包括工控机、微处理器、可调电阻模块、AD转换模块、第一多路切换开关、第二多路切换开关;可调电阻模块、第一多路切换开关、第二多路切换开关均与微处理器连接,可调电阻模块可切换地与各个测温输入口、各个控温输入口连接;AD转换模块的输入可切换地与控温输出口连接,其输出与微处理器连接;测温输出口与工控机连接。本发明利用高精度箔电阻模拟温度变化,能够自动测试温度自动控制装置的测温功能和控温功能。本发明还提供一种温度自动控制装置测试方法。本发明的测试系统能够实现温度自动控制装置测试的自动化,解决了人工测试工作效率低下、精度差的问题,且能避免人工测量误差。
搜索关键词: 一种 温度 自动控制 装置 测试 系统 方法
【主权项】:
一种温度自动控制装置测试系统,所述温度自动控制装置(3)上设置有测温输出口(31)、控温输出口(33)、测温输入口(32)和控温输入口(34),其特征在于:所述温度自动控制装置测试系统包括相互连接的工控机(1)和微处理器(21),还包括可调电阻模块(22)、AD转换模块(23)、第一多路切换开关(24)、第二多路切换开关(27);所述可调电阻模块(22)、第一多路切换开关(24)、第二多路切换开关(27)均与微处理器(21)连接;所述可调电阻模块(22)的输出通过第一多路切换开关(24)可切换地与温度自动控制装置(3)的各个测温输入口(32)、各个控温输入口(34)连接;所述AD转换模块(23)的输入通过第二多路切换开关(27)可切换地与温度自动控制装置(3)的各个控温输出口(33)连接,其输出与微处理器(21)连接;所述温度自动控制装置(3)的测温输出口(31)与工控机(1)连接。
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