[发明专利]自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备有效

专利信息
申请号: 201711283699.7 申请日: 2017-12-07
公开(公告)号: CN109901983B 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 周雪梅 申请(专利权)人: 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 王辉;阚梓瑄
地址: 100195 北京市海淀区杏石口路6*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开是关于一种基于Spark大数据处理的自动化测试方法及装置,属于软件测试技术领域,该基于Spark大数据处理的自动化测试方法可以基于大数据测试的背景进行测试,该方法可以包括:获取待测试代码以及与所述待测试代码对应的期望结果,并为所述待测试代码创建Mock对象;将所述待测试代码对应的Mock对象导入Spark大数据处理框架以使所述Spark大数据处理框架对所述待测试代码对应的Mock对象进行测试并得到测试结果;判断所述期望结果以及所述测试结果是否一致,并在判断所述期望结果以及所述测试结果一致时,确定所述待测试代码的测试通过。该方法可以节省了人力成本,同时也节省了企业的开支。
搜索关键词: 自动化 测试 方法 装置 存储 介质 电子设备
【主权项】:
1.一种基于Spark大数据处理的自动化测试方法,其特征在于,包括:获取待测试代码以及与所述待测试代码对应的期望结果,并为所述待测试代码创建Mock对象;将所述待测试代码对应的Mock对象导入Spark大数据处理框架,以使所述Spark大数据处理框架对所述测试代码对应的Mock对象进行测试并得到测试结果;判断所述期望结果以及所述测试结果是否一致,并在判断所述期望结果以及所述测试结果一致时,确定所述待测试代码的测试通过。
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