[发明专利]光线入射角度测量结果的校准方法有效
| 申请号： | 201711291453.4 | 申请日： | 2017-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN108225256B | 公开（公告）日： | 2020-05-22 |
| 发明（设计）人： | 闫钰锋;杨立宇;丁晓;王赫;李洋;付跃刚;白素平;周见红;王世峰;宋鸿飞;牟达;王崇娥;郭逢时 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00;G01C25/00 |
| 代理公司： | 北京棋拾知识产权代理事务所(普通合伙) 11863 | 代理人： | 杨雪婷 |
| 地址： | 130022 *** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供的光线入射角度测量结果的校准方法，基于包括光学接收装置、计算装置及至少一组具有预置安装参数的微透镜阵列的光线入射角度测量系统，预先任取一组微透镜阵列中的四列微透镜作为校准阵列，所述方法包括：基于对第一校准阵列的测量结果获取第一入射角度值；以第一入射角度值作为已知量，并结合第二校准阵列的安装参数获取入射角度修正值；基于对第三校准阵列的测量结果获取第二入射角度值，并根据第二入射角度值与入射角度修正值计算得到第三入射角度值；基于第四校准阵列的安装参数对第三入射角度值进行校准，以得到校准后的入射角度值。通过本方案，可提高光线入射角度测量结果的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 光线 入射 角度 测量 结果 校准 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光线入射角度测量结果的校准方法，其特征在于，所述方法基于包括光学接收装置、计算装置及至少一组具有预置安装参数的微透镜阵列的光线入射角度测量系统，预先任取一组微透镜阵列中的四列微透镜作为校准阵列，所述方法包括：基于对第一校准阵列的测量结果获取第一入射角度值；以第一入射角度值作为已知量，并结合第二校准阵列的安装参数获取入射角度修正值；基于对第三校准阵列的测量结果获取第二入射角度值，并根据第二入射角度值与入射角度修正值计算得到第三入射角度值；基于第四校准阵列的安装参数对第三入射角度值进行校准，以得到校准后的入射角度值。
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