[发明专利]支持冷备份应用的CMOS输出缓冲电路有效

专利信息
申请号: 201711291781.4 申请日: 2017-12-08
公开(公告)号: CN107894933B 公开(公告)日: 2021-02-23
发明(设计)人: 高国平;贺凌炜;罗静;王栋 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十八研究所
主分类号: G06F11/20 分类号: G06F11/20;H03K19/0185
代理公司: 总装工程兵科研一所专利服务中心 32002 代理人: 杨立秋
地址: 214000*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请揭示了一种支持冷备份应用的CMOS输出缓冲电路,属于集成电路I/O端口设计领域。该CMOS输出缓冲电路通过采用普通的PMOS和NMOS以及合理的电路设计,使得CMOS输出缓冲电路在实现I/O端口的冷备份的同时,避免了电源掉电过程中输出端口向电源漏电的可能性,提高了电路的使用安全。
搜索关键词: 支持 备份 应用 cmos 输出 缓冲 电路
【主权项】:
一种支持冷备份应用的CMOS输出缓冲电路,其特征在于,所述CMOS输出缓冲电路包括第一NMOS管、第二NMOS管、第三NOMS管、第四NMOS管、第五NMOS管、第一PMOS管、第二PMOS管、第三PMOS管、第四PMOS管、第五PMOS管、第六PMOS管、第七PMOS管、第八PMOS管和与非门,其中:所述第一PMOS管的源极以及所述第四PMOS管的源极与所述CMOS输出缓冲电路的电源电性相连;所述第一NMOS管的栅极与所述与非门的输出端电性连接,所述第一NMOS管的源极接地,所述第一NMOS管的漏极、所述第二PMOS管的漏极、所述第一PMOS管的漏极以及所述第七PMOS管的源极均与所述CMOS输出缓冲电路的输出端口电性连接;所述第一PMOS管、所述第二PMOS管、所述第四PMOS管、所述第五PMOS管、所述第六PMOS管、所述第七PMOS管的衬底与所述第四PMOS管的漏极、所述第五PMOS管的源极、所述第六PMOS管的源极电性连接;所述第三PMOS管的源极、栅极和衬底与所述第一PMOS管的栅极电性连接;所述第七PMOS管的漏极与所述第八PMOS管的源极电性相连,所述第八PMOS管的漏极、栅极和衬底与所述第四PMOS管的栅极、所述第四NMOS管的漏极电性相连;所述第四NMOS管的源极与所述第五NMOS管的漏极电性相连,所述第五NMOS管的衬底与所述第四NMOS管的衬底、所述第五NMOS管的源极电性相连,所述第五NMOS管的源极接地;所述第五PMOS管的漏极、所述第六PMOS管的漏极以及所述第二NMOS管的漏极均与所述第一PMOS管的栅极电性相连;所述第二NMOS管的源极与所述第三NMOS管的漏极电性相连,所述第二NMOS管的衬底与所述第三NMOS管的衬底以及所述第三NMOS管的源极电性相连,所述第二NMOS管的源极接地。
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