[发明专利]内存整体测试的系统及其方法在审
申请号: | 201711294684.0 | 申请日: | 2017-12-08 |
公开(公告)号: | CN109901956A | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 李岩 | 申请(专利权)人: | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司;英业达集团(天津)电子技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 许志勇;王宁 |
地址: | 201114 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开一种内存整体测试的系统及其方法,其通过转换内存模块的物理地址范围为内存的逻辑地址范围后,依据内存的逻辑地址范围对内存进行读写测试,并在进行读写测试的过程中侦测与内存对应的错误信息时,将错误信息中的逻辑地址转换为相对应的内存模块的物理地址的技术手段,可以提高测试内存的测试覆盖率与有效性,也可以有效判断发生错误的内存模块,并达成避免测试过程中被操作系统结束执行的技术功效。 | ||
搜索关键词: | 内存 逻辑地址 内存模块 错误信息 读写测试 物理地址 整体测试 测试覆盖率 测试过程 测试内存 技术功效 技术手段 有效判断 转换 侦测 操作系统 | ||
【主权项】:
1.一种内存整体测试的系统,应用于计算装置所执行的操作系统中,其特征在于,该计算装置包含至少一内存模块,该些内存模块作为该计算装置的内存,该系统至少包含:地址映像模块,用以建立映像信息,该映像信息包含该内存的逻辑地址范围与各该内存模块的物理地址范围的对应关系;数据存取模块,用以将各该内存模块的物理地址范围分割为多个小单元,并依据该映像信息转换各该小单元的地址范围为对应的测试地址范围,及用以产生与该计算装置的处理核心数相同数量的多个测试执行序,并分配每一该测试执行序对至少一该小单元所对应的测试地址范围进行读写测试。错误侦测模块,用以侦测进行该读写测试时所产生的与该内存对应的错误信息;及错误报告模块,用以依据该映像信息将该错误信息中的逻辑地址转换为相对应的该内存模块的物理地址,并产生与该逻辑地址对应的内存模块的模块信息,及用以输出该物理地址及该模块信息。
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