[发明专利]一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法有效

专利信息
申请号: 201711307932.0 申请日: 2017-12-11
公开(公告)号: CN108106817B 公开(公告)日: 2019-12-24
发明(设计)人: 苑勇贵;张浩亮;杨军;杨喆;侯成城;李寒阳;苑立波 申请(专利权)人: 哈尔滨工程大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** 国省代码: 黑龙;23
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摘要: 发明提供的是一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法。首先将待测Y波导的输入保偏尾纤与起偏器保偏尾纤连接点、Y波导的输出保偏尾纤与检偏器保偏尾纤连接点的对轴角度同时设定为0°,得到第一次的偏振参数测量结果;然后将上述两个连接点的对轴角度同时调节为90°,得到第二次的测量结果;最后计算两次测量结果的平均值,作为最终测量值。本发明中的测量方法无需更改测量光路结构,具有简单有效、易于实现等特点,有助于消除待测光路中起偏器/检偏器自身结构及性能缺陷引入的测量误差,从而进一步提升测量准确性。该方法可广泛用于Y波导器件芯片消光比等参数的高精度测量。
搜索关键词: 测量 保偏尾纤 连接点 偏振性能 检偏器 起偏器 高精度测量 测量光路 两次测量 偏振参数 性能缺陷 消光比 测光 芯片 输出 引入
【主权项】:
1.一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法,其特征是,第一部分:分别设定待测Y波导的输入保偏尾纤与起偏器保偏尾纤连接点、Y波导的输出保偏尾纤与检偏器保偏尾纤连接点的对轴角度同时为0°和同时为90°,使得传输在Y波导输入/输出保偏尾纤和芯片的两个正交偏振轴中的光信号实现能量交换,根据前后两次测量所得白光干涉信号,获取Y波导器件芯片消光比;第二部分:计算两次测量结果的平均值作为最终测量值;/n所述的第一部分为下列两种具体方法中的一种,/n第一种具体包括:/n(1)测量随机选取的45°起偏器Ⅰ(201)的保偏尾纤Ⅰ(202)长度,记为l
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