[发明专利]用于激光测距设备的测距校准方法和装置有效
| 申请号： | 201711308435.2 | 申请日： | 2017-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN108226907B | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 杨俊;贺义方;梅丽;胡攀攀 | 申请（专利权）人： | 武汉万集信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;李相雨 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种用于激光测距设备的测距校准方法和装置，该测距校准方法包括：采集固定设置的激光测距设备多次进行多角度激光扫描得到的扫描数据，并根据全部的扫描数据生成波形数据点集合，在所述波形数据点集合中提取全部的滤光罩回波集合；对数据点数量最多的滤光罩回波集合进行多项式拟合，得到滤光罩回波计算模型；根据所述滤光罩回波计算模型得到滤光罩回波特征信息的特征值的标准差；判断所述标准差是否大于第一阈值，若是，则判定所述激光测距设备的滤光罩回波不一致；对滤光罩回波不一致的激光测距设备进行校准。本发明能够有效检测设有滤光罩的激光测距设备的滤光罩回波的一致性，并能够对滤光罩回波不一致的激光测距设备进行校准。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 激光 测距 设备 校准 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于激光测距设备的测距校准方法，其特征在于，所述测距校准方法包括：步骤1：采集固定设置的激光测距设备多次进行多角度激光扫描得到的扫描数据，并根据全部的扫描数据生成波形数据点集合；步骤2：在所述波形数据点集合中提取全部的滤光罩回波集合，其中，所述滤光罩回波集合为所述激光测距设备上滤光罩的回波集合；步骤3：对数据点数量最多的滤光罩回波集合进行多项式拟合，得到滤光罩回波计算模型；步骤4：根据所述滤光罩回波计算模型得到滤光罩回波特征信息的特征值的标准差；步骤5：判断所述标准差是否大于第一阈值，若是，则判定所述激光测距设备的滤光罩回波不一致；步骤6：对滤光罩回波不一致的激光测距设备进行校准。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉万集信息技术有限公司，未经武汉万集信息技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711308435.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
