[发明专利]半导体圆片定位装置及方法有效
申请号: | 201711309059.9 | 申请日: | 2017-12-11 |
公开(公告)号: | CN109904104B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 严鹏;刘明 | 申请(专利权)人: | 苏州能讯高能半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 赵志远 |
地址: | 215300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种半导体圆片定位装置及方法,涉及半导体设备技术领域。该半导体圆片定位装置包括定位器和旋转装置,定位器包括第一感应探头和控制模块,第一感应探头与控制模块电连接。旋转装置用于承载圆片并能够带动圆片旋转。第一感应探头用于在旋转装置旋转并带动圆片旋转时扫描圆片,并在接收到圆片反射的光信号时生成第一感应信号。控制模块用于在圆片旋转预设角度的时间内始终接收到第一感应信号时生成第一判定结果和第二判定结果,其中,第二判定结果表征第一感应探头扫描到圆片的平边。该半导体圆片定位装置能够对硅片、蓝宝石、碳化硅的单双抛圆片等各种圆片进行准确的识别,增加设备的通用性,减少圆片损坏的风险。 | ||
搜索关键词: | 半导体 定位 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体圆片定位装置,其特征在于,包括定位器和旋转装置,所述定位器包括第一感应探头和控制模块,所述第一感应探头与所述控制模块电连接,所述第一感应探头设置于与所述旋转装置相对应的位置;所述旋转装置用于承载圆片并能够带动所述圆片旋转;所述第一感应探头用于在所述旋转装置旋转并带动所述圆片旋转时扫描所述圆片,并在接收到所述圆片反射的光信号时生成第一感应信号;所述控制模块用于在所述圆片旋转预设角度的时间内始终接收到所述第一感应信号时生成第一判定结果,其中,所述第一判定结果表征所述第一感应探头未扫描到所述圆片的平边;所述控制模块还用于在所述圆片旋转预设角度的时间内存在未接收到所述第一感应信号时生成第二判定结果,其中,所述第二判定结果表征所述第一感应探头扫描到所述圆片的平边。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造