[发明专利]一种共轴反射式系统装调过程中高精度测角方法在审
| 申请号： | 201711311554.3 | 申请日： | 2017-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN108132042A | 公开（公告）日： | 2018-06-08 |
| 发明（设计）人： | 陈佳夷;李斌;王海超;霍腾飞;贾馨;刘大礼;岳鹏远;陆玉婷;范龙飞;陈宗;王向东 | 申请（专利权）人： | 北京空间机电研究所 |
| 主分类号： | G01C1/02 | 分类号： | G01C1/02 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 臧春喜 |
| 地址： | 100076 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种共轴反射式系统装调过程中高精度测角方法，用于检测空间遥感器次镜相对于空间遥感器主镜的角度变化，包括如下步骤：在待测空间遥感器的主镜和次镜上分别安装平面反射镜；将待测空间遥感器置于干涉仪前，启动干涉仪进行调试；调节待测空间遥感器的角度；架设经纬仪；利用经纬仪进行测量并记录数据；根据数据计算次镜法线与主镜法线的夹角。本发明通过引入干涉仪辅助进行角度测量，实现了在提升角度测量精度的前提下同时确保测量范围，弥补了传统高精度角度测量方法测量精度不够或者精度提升后角度测量范围不够的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 空间遥感器 角度测量 干涉仪 次镜 主镜 经纬仪 法线 反射式系统 测角 共轴 装调 测量 高精度角度测量 安装平面 方法测量 记录数据 角度变化 精度提升 数据计算 反射镜 调试 架设 引入 检测 | ||
【主权项】：
一种共轴反射式系统装调过程中高精度测角方法，用于检测空间遥感器次镜相对于空间遥感器主镜的角度变化，其特征在于：包括如下步骤：S1，在待测空间遥感器的主镜和次镜上分别安装平面反射镜(1)；S2，将待测空间遥感器置于干涉仪(2)前，启动干涉仪(2)进行调试；S3，调节待测空间遥感器的角度；S4，架设经纬仪(3)；S5，利用经纬仪(3)进行测量并记录数据；S6，根据数据计算次镜法线与主镜法线的夹角。
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