[发明专利]一种间接测量磁场大小的系统与方法在审
| 申请号： | 201711311834.4 | 申请日： | 2017-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN107797081A | 公开（公告）日： | 2018-03-13 |
| 发明（设计）人： | 邓娜;王启玉;何官送;张于峰;张啊文 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01R33/038 | 分类号： | G01R33/038 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人： | 宋洁瑾 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种间接测量磁场大小的系统与方法，本发明系统包括电子天平、导磁衔铁和磁铁支架台三部分，所述导磁衔铁设置于电子天平上面，所述磁铁支架台包括圆形底座，设置于圆形底座上的铁架，所述铁架通过螺丝旋钮连接载物架。本发明技术方案的提出实现了对磁场大小的间接测量，该系统构造简单，测量结构所需器材易于获取，制造成本低，操作简单，对使用者技能水平要求水平不高。适用于工业生产中磁场测量，检验磁场是否发生变化，尤其适用于永久磁铁剩磁变化及周围磁场的强弱情况的检验。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 间接 测量 磁场 大小 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种间接测量磁场大小的系统，其特征在于，包括电子天平、导磁衔铁和磁铁支架台三部分，所述导磁衔铁设置于电子天平上面，所述磁铁支架台包括圆形底座，设置于圆形底座上的铁架，所述铁架通过螺丝旋钮连接载物架。
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