[发明专利]基于内插器的测试程序评估有效

专利信息
申请号: 201711315985.7 申请日: 2017-12-12
公开(公告)号: CN108254671B 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: C·P·昂;H·S·贾 申请(专利权)人: 德克萨斯仪器股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 徐东升;赵蓉民
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请涉及基于内插器的测试程序评估。一个示例包括测试系统(100),该测试系统包含印刷电路板(102)和切换内插器板(104)。切换内插器板(104)包括探测点(108)、第一总线(112)、第二总线(114)和一组开关(106)。每个开关(106)包含第一端子(“1 COMM”)、第二端子(“2”)和第三端子(“4”),第一端子(“1 COMM”)被耦合至集成电路器件(110)的相应引脚,第二端子(“2”)被耦合至第一总线(112),第三端子(“4”)被耦合至第二总线(114)。该组开关(106)中的每一个具有第一状态和第二状态,该第一状态在短路测试期间通过第一总线(112)选择性地将集成电路器件(110)的一对引脚彼此耦合,并且该第二状态在电压电平尖峰测试期间通过第二总线(114)选择性地将集成电路器件(110)的至少一个引脚耦合至探测点(108)。
搜索关键词: 基于 内插 测试 程序 评估
【主权项】:
1.一种测试系统,其包括:印刷电路板,其包括耦合至自动测试装置的输入/输出端子的端子;以及切换内插器板,其将所述印刷电路板的所述端子耦合至集成电路器件,所述切换内插器板包括:探测点;第一总线;第二总线;以及一组开关,每个开关包含第一端子、第二端子和第三端子,所述第一端子耦合至所述集成电路器件的相应引脚,所述第二端子耦合至所述第一总线,并且所述第三端子耦合至所述第二总线,所述一组开关中的每一个具有第一状态和第二状态,所述第一状态在评估由所述自动测试装置执行的测试程序的短路测试期间通过所述第一总线选择性地将所述集成电路器件的一对引脚彼此耦合,并且所述第二状态在评估由所述自动测试装置执行的所述测试程序生成的信号的电压电平尖峰测试期间通过所述第二总线选择性地将所述集成电路器件的至少一个引脚耦合至所述探测点。
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