[发明专利]光栅制作方法有效
申请号: | 201711323285.2 | 申请日: | 2017-12-12 |
公开(公告)号: | CN108107497B | 公开(公告)日: | 2021-06-11 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 郑君雄 |
主分类号: | G02B5/18 | 分类号: | G02B5/18;G03F7/20 |
代理公司: | 北京恒泰铭睿知识产权代理有限公司 11642 | 代理人: | 张静 |
地址: | 518000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种光栅制作方法,所述光栅制作方法包括:在基底表面依次形成第一光刻胶和第二光刻胶,其中所述第二光刻胶覆盖所述第一光刻胶,且其最低显开能量小于所述第一光刻胶;采用第一掩膜板对所述第二光刻胶进行第一次曝光处理,其中所述第二光刻胶在第一掩膜区域形成第一光刻胶图形;采用第二掩膜板对所述第二光刻胶进行第二次曝光处理,其中所述第二掩膜板至少部分覆盖所述第一曝光区域,且所述第一光刻胶在第二曝光区域形成第二光刻胶图形;对所述第一光刻胶和所述第二光刻胶进行显影处理,形成具有第一光刻胶图形和第二光刻胶图形的光刻胶台阶结构。 | ||
搜索关键词: | 光栅 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种光栅制作方法,其特征在于,包括:在基底表面依次形成第一光刻胶和第二光刻胶,其中所述第二光刻胶覆盖所述第一光刻胶,且其最低显开能量小于所述第一光刻胶;采用第一掩膜板对所述第二光刻胶进行第一次曝光处理,其中所述第二光刻胶在第一掩膜区域形成第一光刻胶图形;采用第二掩膜板对所述第二光刻胶进行第二次曝光处理,其中所述第二掩膜板至少部分覆盖所述第一曝光区域,且所述第一光刻胶在第二曝光区域形成第二光刻胶图形;对所述第一光刻胶和所述第二光刻胶进行显影处理,形成具有第一光刻胶图形和第二光刻胶图形的光刻胶台阶结构。
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