[发明专利]一种调整晶体管衬底电压校正片上非均匀性的装置及方法有效
申请号: | 201711327490.6 | 申请日: | 2017-12-13 |
公开(公告)号: | CN108225564B | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | 李聪科;俞白军 | 申请(专利权)人: | 烟台睿创微纳技术股份有限公司 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 尉保芳 |
地址: | 264006 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及一种调整晶体管衬底电压校正片上非均匀性的装置,包括:第一模数转换器,第二模数转换器,第一功能模块电路,第二功能模块电路,PMOS管,NMOS管,传感器探测元电阻阵列,积分电路,不感光电阻;NMOS管的漏极与传感器探测元电阻阵列连接,源极分别与PMOS管的漏极和积分电路连接;PMOS管的源极与不感光电阻的一端连接,漏极还与积分电路连接;第一功能模块电路和第二功能模块电路分别与PMOS管的栅极和NMOS管的栅极连接;第一模数转换器和第二模数转换器分别与PMOS管的衬底和NMOS管的衬底连接,用于调节PMOS管和NMOS管的衬底电压。本发明通过调节晶体管的衬底电压来实现片上非均匀性的校正,降低非均匀校正时调整电压对输出的噪声贡献,提高电路的扩展性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 调整 晶体管 衬底 电压 校正 片上非 均匀 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种调整晶体管衬底电压校正片上非均匀性的装置,其特征在于,包括:第一模数转换器(1),第二模数转换器(2),第一功能模块电路(3),第二功能模块电路(4),PMOS管(5),NMOS管(6),传感器探测元电阻阵列(7),积分电路(8),不感光电阻(9);所述NMOS管(6)的漏极与所述传感器探测元电阻阵列(7)连接,源极分别与所述PMOS管(5)的漏极和所述积分电路(8)连接;所述PMOS管(5)的源极与所述不感光电阻(9)的一端连接,漏极还与所述积分电路(8)连接;所述第一功能模块电路(3)和所述第二功能模块电路(4)分别与所述PMOS管(5)的栅极和所述NMOS管(6)的栅极连接;所述第一模数转换器(1)和所述第二模数转换器(2)分别与所述PMOS管(5)的衬底和所述NMOS管(6)的衬底连接,用于调节所述PMOS管(5)和所述NMOS管(6)的衬底电压。
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