[发明专利]基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法

摘要

本发明属于可编程器件验证测试技术领域，具体涉及一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，在FPGA焊接到单板上后，利用FPGA中内建的BIST(Built‑in self‑test)方法，自动遍历测试FPGA中的RAM资源，识别出其中的坏块，并上报RAM坏块的统计结果，包括RAM坏块的个数、位置、错误类型等，从而避免由于RAM坏块引起的FPGA故障。 1

主权项

1.一种基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，其特征在于，FPGA中包含有多个RAM资源块，并且不同厂家、不同型号的FPGA，其RAM资源块的个数也不同，每个RAM资源块在FPGA中都有固定的位置；

所述方法首先对FPGA中所有的RAM资源块进行编号，将编号和其在FPGA中的位置一一对应，在选定的故障模式下进行测试时，如果某块RAM资源出现故障，就会上报RAM资源块的编号，这样就可以通过编号定位到RAM资源块的位置。

2.如权利要求1所述的基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤一：

首先对FPGA中所有的RAM资源块进行编号，将编号和其在FPGA中的位置一一对应；

步骤二：

板卡上电，开始BIST自动测试；

步骤三：

开始AF故障测试，同时对所有RAM进行写读操作，其中地址由地址生成器进行控制，保证遍历完所有的地址空间；每个存储空间写入的存储数据内容为存储空间对应的地址，这就可以保证对每个存储空间写入不同的存储数据；

写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第一错误信息；

步骤四：

在完成步骤三后，开始TF&SAF故障测试，这部分测试分为两个部分：

(1)同时对所有RAM进行写读操作，对所有存储空间写入相同的第一数据，写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第二错误信息；

(2)同时对所有RAM进行写读操作，对所有存储空间写入相同的第二数据，写完成后开始读RAM，将读到的数据和写入的数据比较，如果二者不一致，则记录第三错误信息；

通过上述2部分测试可以覆盖TF&SAF故障测试。

步骤五：

按照出错的故障类型，对每次测试的结果即第一错误信息、第二错误信息及第三错误信息进行统计，统计出RAM块的坏块个数以及位置信息，并置位测试完成标志，上报给DSP，测试结束。

3.如权利要求1所述的基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，其特征在于，步骤三中，错误信息包括错误类型、错误个数和出错的RAM块编号。

4.如权利要求1所述的基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，其特征在于，步骤三中，第一数据内容为“0B_0101_0101…_0101”。

5.如权利要求1所述的基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，其特征在于，步骤四中，第一数据是相邻数据线01跳变的数据。

6.如权利要求1所述的基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，其特征在于，步骤四中，第二数据内容为“0B_1010_1010…_1010”。

7.如权利要求1所述的基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，其特征在于，步骤四中，第二数据是对上一次写入的第一数据按位取反。

8.如权利要求1所述的基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，其特征在于，步骤四中，第二错误信息包括错误类型、错误个数和出错的RAM编号。

9.如权利要求1所述的基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，其特征在于，步骤四中，第三错误信息包括错误类型、错误个数和出错的RAM编号。

10.如权利要求1所述的基于BIST的板载FPGA中RAM资源遍历测试定位方法，其特征在于，步骤五中，通过EMIF接口上报给DSP。