[发明专利]电感耦合等离子体发射光谱法测定硅铁中硫含量的方法

摘要

本发明公开一种电感耦合等离子体发射光谱法测定硅铁中硫含量的方法，其方法如下：将待测硅铁试样溶解，配置待测溶液；将高纯铁溶解后，向体系中分别加入不同体积的硫标准溶液，配置成标准系列溶液；在电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP‑AES）上，选择180.731波长谱线作为硫的分析谱线，测量其发射强度，然后以硫的质量分数为横坐标、分析线的强度为纵坐标，绘制工作曲线，得出线性方程；将待测溶液引入电感耦合等离子体发射光谱仪，测定待测溶液中硫元素的分析线强度；根据线性方程计算出待测溶液中的硫元素的质量分数。该方法具有检出限低、线性范围宽、效率高和准确度高的特点，其检出限可达0.00066%。

主权项

1.一种电感耦合等离子体发射光谱法测定硅铁中硫含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)称样：采用精密称量设备称取2.000g的硅铁样品，称取精度精确到0.0001g；(2)将硅铁样品消解，配制待测溶液；(3)将高纯铁溶解后，向体系中分别加入不同体积的硫标准溶液，配置成标准系列溶液；(4)将标准系列溶液在电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-AES）上，选择182.034波长谱线作为硫的分析谱线，测量其发射强度，然后以硫元素的浓度为横坐标、分析线的强度为纵坐标，绘制工作曲线，得出线性方程；(5)将待测溶液引入电感耦合等离子体发射光谱仪，测定待测溶液中硫元素的分析线强度；(6)根据线性方程计算出待测溶液中的硫元素的浓度，然后计算待测样品中的硫的质量分数。