[发明专利]基于纳米线表面等离激元的折射率测量方法及传感器系统有效
| 申请号： | 201711336503.6 | 申请日： | 2017-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN108120697B | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 詹耀辉;姚凯强;胡增荣 | 申请（专利权）人： | 苏州大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G01N21/49 |
| 代理公司： | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 | 代理人： | 冯瑞;杨慧林 |
| 地址： | 215104 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于纳米线表面等离激元的折射率测量方法及传感器系统，其方法包括：产生光波；置于待测溶液中的纳米线接收光波，并激发表面等离激元，同时产生散射光；接收散射光，得到散射光的不同散射率峰值对应的波长，并根据峰值的位置来确定待测溶液的折射率。本发明的有益效果：本发明基于纳米线表面等离激元的折射率测量方法及传感器系统利用表面等离激元现象，并通过计算得到散射光的不同散射率峰值对应的波长，并根据峰值的位置来确定待测溶液的折射率。突破了衍射极限，让传感器件的微型化成为可能，使传感器的体积达到纳米级别，结构简单，成本低，便于集成与生物探测，同时具有较高的空间分辨率，具有广阔的市场前景。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 纳米 表面 离激元 折射率 测量方法 传感器 系统 | ||
【主权项】：
基于纳米线表面等离激元的折射率测量方法，其特征在于，包括：产生光波；置于待测溶液中的纳米线接收所述光波，并激发表面等离激元，同时产生散射光；接收所述散射光，得到所述散射光的不同散射率峰值对应的波长，并根据峰值的位置来确定所述待测溶液的折射率。
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