[发明专利]无损测试切削刀片以确定涂层厚度的方法在审
| 申请号： | 201711347045.6 | 申请日： | 2017-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN108225195A | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | C.盖;N.孔达美迪 | 申请（专利权）人： | 肯纳金属公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G01B9/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 卢亚静 |
| 地址： | 美国宾夕*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明题为“无损测试切削刀片以确定涂层厚度的方法”。本发明公开了一种用于无损测试切削刀片以确定涂层厚度的方法。该方法包括以下步骤：使用电磁能量源烧蚀所述切削刀片的表面以无损地形成几何特征并且暴露基底和所述涂层的每一层；并且测量所述涂层的每一层的所述厚度。在一个示例中，所述几何特征是具有大致梯形形状的凹槽。在其他示例中，所述凹槽可以具有U形、V形等。使用焦点变化、对比检测、共焦显微术、干涉显微术和成像干涉显微术或类似技术测量所述涂层的每一层的所述厚度。 | ||
| 搜索关键词： | 切削刀片 无损 干涉显微术 几何特征 测试 电磁能量源 共焦显微术 对比检测 技术测量 焦点变化 梯形形状 基底 烧蚀 成像 测量 暴露 | ||
【主权项】：
1.一种用于对包括基底和一层或多层涂层的切削刀片进行无损测试的方法，所述方法包括：使用电磁能量源烧蚀所述切削刀片的表面以形成几何特征并且暴露所述基底和所述涂层的每一层的横截面；以及测量每一层的厚度。
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