[发明专利]一种动态测量片状材料晶体织构的系统、设备及方法有效
| 申请号： | 201711351713.2 | 申请日： | 2017-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN108414553B | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 熊旭明;王延凯;寇秀荣;戴辉;罗恒;李小宝;陈惠娟;蔡渊 | 申请（专利权）人： | 苏州新材料研究所有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207;G01N23/2055 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 朱振德 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种动态测量带材或板材的晶体织构的系统、设备及方法。该系统包括用于发射X射线的X射线管以及用于接收X射线并计算得出待测产品的晶体织构的X射线探测器，所述X射线管及X射线探测器分别设置于测角仪上，所述测角仪设置在第一旋转台上，所述第一旋转台设置在第二旋转台上，所述第一旋转台与第二旋转台的旋转轴相互垂直；所述系统还包括待测产品输送机构，用于将所述待测产品以连续或步进的方式输送经过所述X射线管及X射线探测器的检测点。本发明实现了对带材及板材等待测产品的在线连续自动测量，大大提高了测量效率，并且可测量内容丰富。同时结构简单，可以加装于现有生产线或检测线上，无需改动现有设备的结构，成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 动态 测量 片状 材料 晶体 系统 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种动态测量片状材料晶体织构的系统，包括用于发射X射线的X射线管以及用于接收X射线并计算得出待测产品的晶体织构的X射线探测器，其特征在于，所述X射线管及X射线探测器分别设置于测角仪上，所述测角仪设置在第一旋转台上，所述第一旋转台设置在第二旋转台上，所述第一旋转台与第二旋转台的旋转轴相互垂直；所述系统还包括待测产品输送机构，用于将所述待测产品以连续或步进的方式输送经过所述X射线管及X射线探测器的检测点。
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