[发明专利]一种量子点表面配体覆盖率的测定方法

摘要

本发明提出一种量子点表面配体覆盖率的测定方法，可用于对量子点的质量评定。若Ki小于2*10‑10mol/cm2，则量子点质量欠佳，需将Ki值提高后再进行溶液或墨水配置等应用。采用本方法确定量子点表面配体覆盖率，结果准确，操作简单，进一步，通过本发明的方法能保证量子点表面配体含量的稳定性，能保证不同批次的量子点的溶解性，避免量子点溶液制备成膜时因干燥速率不同导致的咖啡环效应，能提高量子点显示面板的像素分辨率、启亮电压、光电效率的均一性。

主权项

1.一种量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，包括：提供样品颗粒，所述样品颗粒中的单个颗粒包括量子点和结合在所述量子点表面的的有机配体，所述的有机配体选自脂肪羧酸配体、含氮的有机配体、含磷的有机配体或含硫的有机配体；其中，当量子点表面的有机配体为脂肪羧酸配体时，所述量子点中不含氧元素；当量子点表面的有机配体为含氮的有机配体时，所述量子点中不含氮元素；当量子点表面的有机配体为含磷的有机配体时，所述量子点中不含磷元素；当量子点表面的有机配体为含硫的有机配体时，所述量子点中不含硫元素；测定所述样品颗粒中颗粒的平均粒径；将所述样品颗粒置于能谱分析仪中，对样品颗粒中各元素含量的数据进行采集，得到样品颗粒中所含各元素的含量曲线；对含量曲线中各元素种类进行标定，计算得到量子点表面配体覆盖率K_i。