[发明专利]阵列基板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201711361236.8 申请日: 2017-12-18
公开(公告)号: CN108039352B 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 白思航 申请(专利权)人: 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;熊永强
地址: 430070 湖北省武汉市东湖新技术*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种阵列基板的制造方法,其包括以下步骤:在基底上形成栅极层;在栅极层上形成栅极绝缘材料层;在所述栅极绝缘材料层上形成多晶硅材料层;在多晶硅材料层上沉积形成刻蚀阻挡材料层;对多晶硅材料层进行沟道掺杂;形成有源层、刻蚀阻挡层及栅极绝缘层;在有源层及栅极绝缘层上形成源漏极层,有源层与源漏极层电性连接;及在源漏极层上形成通孔,进而形成源极及漏极,通孔对应有源层设置,源极及漏极均与有源层电性连接。本发明还提供一种阵列基板。由于所述阵列基板为底栅结构,其减小了现有技术中顶栅结构中,由于有源层引起的表面不平整带来的界面电阻不均的现象,提高了阵列基板的电学性能的稳定性。
搜索关键词: 阵列 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种阵列基板的制造方法,其包括以下步骤:在基底上形成栅极层;在所述栅极层上形成栅极绝缘材料层,所述栅极绝缘材料层覆盖所述栅极层及所述基底;在所述栅极绝缘材料层上形成多晶硅材料层;在所述多晶硅材料层上沉积形成刻蚀阻挡材料层;对所述多晶硅材料层进行沟道掺杂;蚀刻所述多晶硅材料层、所述刻蚀阻挡材料层及所述栅极绝缘材料层,进而形成有源层、刻蚀阻挡层及栅极绝缘层,所述栅极绝缘层覆盖所述栅极层及所述基底,所述有源层形成于所述栅极层上,所述刻蚀阻挡层覆盖所述有源层;在所述有源层及所述栅极绝缘层上形成源漏极层,所述有源层与所述源漏极层电性连接;及在所述源漏极层上形成通孔,进而形成源极及漏极,所述通孔对应有源层设置,所述源极及所述漏极均与有源层电性连接。
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