[发明专利]大气中子下SRAM单粒子效应检测数据区分方法和系统有效
| 申请号： | 201711365085.3 | 申请日： | 2017-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN108122597B | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 张战刚;雷志锋;何玉娟;彭超;师谦;李沙金;黄云;恩云飞 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 刘艳丽 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子器件辐射效应领域，特别是涉及一种大气中子下SRAM单粒子效应检测数据区分方法和系统，通过对SRAM器件进行大气中子单粒子效应实时检测，获取所述SRAM器件的总失效率；获取所述SRAM器件由阿尔法粒子导致的第一失效率；获取所述SRAM器件由热中子导致的第二失效率；根据所述总失效率、所述第一失效率和所述第二失效率获取所述SRAM器件由大气中子导致的目标失效率。本方案可区分SRAM器件大气中子单粒子效应实时测量试验数据中阿尔法粒子、热中子和大气中子三种成份各自的贡献，从而获得大气中子导致的SRAM器件单粒子效应失效率，从而提高SRAM器件大气中子单粒子效应敏感性的定量评价结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 大气 中子 sram 粒子 效应 检测 数据 区分 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种大气中子下SRAM单粒子效应检测数据区分方法，其特征在于，包括以下步骤：对SRAM器件进行大气中子单粒子效应实时检测，获取所述SRAM器件的总失效率；获取由阿尔法粒子导致的SRAM器件的第一失效率；获取由热中子导致的SRAM器件的第二失效率；根据所述总失效率、所述第一失效率和所述第二失效率获取由大气中子导致的SRAM器件的目标失效率。
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