[发明专利]单源真多能X射线透视与散射融合安检系统在审
| 申请号： | 201711367015.1 | 申请日： | 2017-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN107991326A | 公开（公告）日： | 2018-05-04 |
| 发明（设计）人： | 李维姣;丁志平;常青青;沈天明;陈嘉敏;刘伟豪;王德凯 | 申请（专利权）人： | 公安部第三研究所 |
| 主分类号： | G01N23/10 | 分类号： | G01N23/10;G01V5/00 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司31224 | 代理人： | 刘常宝 |
| 地址： | 200031*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了单源真多能X射线透视与散射融合安检系统，该安检系统中的信号探测单元包括散射探测器和透视探测器，所述散射探测器和透视探测器针对单射线源的单次曝光同步进行X射线散射探测和真多能透视信号探测，形成在空间和时间相互匹配的散射图像和透视图像。本发明提供的方案能够实现单射线源同时采集真多能透视与背散图像，同时检测物质的密度和原子序数等多种信息，并将物质细分为4类以上；且方案中散射与透视的性能互相不受牵制，可保证二者分辨率、穿透力等参数均达到最优。 | ||
| 搜索关键词： | 单源真 多能 射线 透视 散射 融合 安检 系统 | ||
【主权项】：
单源真多能X射线透视与散射融合安检系统，其特征在于，所述安检系统中的信号探测单元包括：散射探测器和透视探测器，所述散射探测器和透视探测器针对单射线源的单次曝光同步进行X射线散射探测和真多能透视信号探测，形成在空间和时间相互匹配的散射图像和透视图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于公安部第三研究所，未经公安部第三研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711367015.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种气动薄膜调节阀
- 下一篇：一体式波纹管免拆卸阀
