[发明专利]一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头在审
| 申请号： | 201711370932.5 | 申请日： | 2017-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN107941746A | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 高洪智;王动民;丁海泉;苏建全;于新洋 | 申请（专利权）人： | 广东星创众谱仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/359 | 分类号： | G01N21/359 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司44245 | 代理人： | 黄磊,陈宏升 |
| 地址： | 510700 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头，包括光源探针、检测探针、固定装置，其中光源探针、检测探针平行设置在固定装置上，光源探针上设置的出射窗正对着检测探针上设置的入射窗；光源探针内安装有出射光线发出装置，检测探针内安装有检测装置，出射光线发出装置将出射光传导至出射窗进入到固体颗粒物，出射光经过固体颗粒物形成的透射光经入射窗进入即得到入射光线，入射光线被检测装置接收，检测装置将接收到入射光线的光信号转换为电信号传输出去。本发明对比现有的透射、漫反射检测方式，这种透射式探头省去了样品池，不需要取样、装样等操作过程，使用更加方便，检测效率更高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 固体 颗粒 光谱 无损 检测 探针 透射 探头 | ||
【主权项】：
一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头，其特征在于：包括光源探针、检测探针、固定装置，其中光源探针、检测探针平行设置在固定装置上，光源探针上设置的出射窗正对着检测探针上设置的入射窗；光源探针内安装有出射光线发出装置，检测探针内安装有检测装置，出射光线发出装置将出射光传导至出射窗进入到固体颗粒物，出射光经过固体颗粒物形成的透射光经入射窗进入即得到入射光线，入射光线被检测装置接收，检测装置将接收到入射光线的光信号转换为电信号传输出去。
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