[发明专利]一种使用低压脉冲的MRAM读出电路有效

专利信息
申请号: 201711376495.8 申请日: 2017-12-19
公开(公告)号: CN108133725B 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 戴瑾 申请(专利权)人: 上海磁宇信息科技有限公司
主分类号: G11C11/16 分类号: G11C11/16
代理公司: 上海容慧专利代理事务所(普通合伙) 31287 代理人: 于晓菁
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种使用低压脉冲的MRAM读出电路,包括排列成一排并联的多个等同的MOS管、参考单元组合和比较器;所述多个MOS管中有k个MOS管并联后与所述参考单元组合的k个参考单元串联,所述多个MOS管中其余的每一个MOS管Pax与一个被读存储单元串联,所述比较器位于所述Ax和B两点之间,通过两点之间的电压差来决定所述存储单元是在P状态还是AP状态。本发明采用低压脉冲进行读操作,有效地了降低MRAM读出电路的读功耗。
搜索关键词: 一种 使用 低压 脉冲 mram 读出 电路
【主权项】:
一种使用低压脉冲的MRAM读出电路,包括排列成一排并联的多个等同的MOS管、参考单元组合、比较器和开关控制电路,其特征在于,所述参考单元组合由k个参考单元并联,所述k个参考单元中有一部分被配置为P状态,其余的被配置成AP状态;所述多个等同的MOS管中有k个MOS管Pb1、Pb2…Pbk并联,然后与所述k个参考单元串联,串联连接点为B;所述多个等同的MOS管中其余的每一个MOS管Pax(x=1、2、…)与一个被读存储单元x(x=1、2、…)串联,串联连接点为Ax(x=1、2、…);所述比较器位于所述Ax和B两点之间,通过所述两点之间的电压差来决定所述存储单元x是在P状态还是AP状态;所述参考单元组合和所述存储单元的一端连接一个基准电压V_b;所述开关控制电路用于控制所述多个等同的MOS管的通断;在进行读操作时,所述开关控制电路,所述开关控制电路把多个等同的MOS管栅极电压接通到指定的电压标准,所述多个等同的MOS管的一端增加一电压V_read,所述多个等同MOS管接通,相当于一个电阻。
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