[发明专利]一种版图重复单元匹配性检查方法及系统有效
| 申请号： | 201711394189.7 | 申请日： | 2017-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN107967401B | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 顾婷婷;储志浩;魏芳;张辰明;陈翰 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/392 | 分类号： | G06F30/392 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 智云 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开一种版图重复单元匹配性检查方法及系统，所述方法包括如下步骤：步骤S1，获取芯片的所有层次版图原始设计数据，并据此对版图重复单元建立数据库；步骤S2，利用步骤S1建立的数据库，对芯片版图进行版图重复单元匹配性检查，通过本发明，可实现自动查找版图中重复子单元关键信息并运算归类后建库，从而进行子单元匹配性检查，能有效提高图形匹配技术环节中子单元获取的效率，并排除人为干扰因子使子单元的一致性更高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 版图 重复 单元 匹配 检查 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种版图重复单元匹配性检查方法，包括如下步骤：步骤S1，获取芯片的所有层次版图原始设计数据，并据此对版图重复单元建立数据库；步骤S2，利用步骤S1建立的数据库，对芯片版图进行版图重复单元匹配性检查。
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