[发明专利]计算机断层扫描有效
申请号: | 201711404282.1 | 申请日: | 2017-12-22 |
公开(公告)号: | CN108240998B | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 米伦·加特什基;D·贝克尔斯 | 申请(专利权)人: | 马尔文帕纳科公司 |
主分类号: | G01N23/046 | 分类号: | G01N23/046;G01N23/207;G01N23/20016;G01N23/20008 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 陆建萍;杨明钊 |
地址: | 荷兰阿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本申请涉及计算机断层扫描。描述了用于计算机断层扫描的装置,其也适用于X射线衍射。计算机断层扫描测量使用线焦点(8),并使来自线焦点的X射线穿过垂直的狭缝(22),并随后穿过样品到二维检测器上。拍摄多个图像,每个图像对应于围绕旋转轴线(14)旋转不同量的样品,并且被组合以创建计算机断层扫描图像。 | ||
搜索关键词: | 计算机 断层 扫描 | ||
【主权项】:
1.一种执行计算机断层扫描测量的方法,包括:在X射线源中生成X射线的束;创建在第一方向上线性延伸的X射线的线焦点;使来自所述线焦点的所述X射线的束穿过掩模中的机械狭缝,所述机械狭缝在大体上垂直于所述线焦点的狭缝方向上延伸;在穿过所述机械狭缝之后使所述X射线的束穿过待测量的对象;以及在二维检测器上对所述X射线的束成像。
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