[发明专利]改善HTO厚度稳定性的方法有效

专利信息
申请号: 201711419332.3 申请日: 2017-12-25
公开(公告)号: CN108165953B 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 涂新星;张召 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种改善HTO厚度稳定性的方法,在炉管HTO机台正常的工艺过程中,在累积膜厚达到一定数值时,通过自动运行新的循环清洁程式,该循环清洁程式采用高低温度/压力同时切换的方式,在高压高温条件下,利用蒸汽压的不同将含氯副产物转化成气态带出,达到有效去除的效果。本发明能够有效去除掉工艺腔体底部的副产物,保证机台成膜工艺的厚度稳定性。
搜索关键词: 改善 hto 厚度 稳定性 方法
【主权项】:
1.一种改善HTO厚度稳定性的方法,其特征在于:在炉管HTO机台正常的工艺过程中,在累积膜厚达到一定数值时,自动运行新的循环清洁程式,该循环清洁程式采用高低温度/压力同时切换的方式,在高压高温条件下,利用蒸汽压的不同将含氯副产物转化成气态带出,达到有效去除的效果。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述高压为50torr、所述高温为780℃、所述低温为600℃。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述累积膜厚达到一定数值是指膜厚达到1μm~2μm。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述循环清洁程式采用高低温度/压力同时切换的方式是指,在780℃高温情况下反复抽真空清洁半个小时,然后将温度降低到600℃,压力回到50torr进行清洁。

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