[发明专利]结构件的劣化侦测方法有效

专利信息
申请号: 201711422653.9 申请日: 2017-12-25
公开(公告)号: CN109254077B 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 蔡曜隆;王立华 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种结构件的劣化侦测方法,包含以设置于结构件的感测器侦测结构件的时域振动波形。接着,以电连接感测器的处理器对时域振动波形执行时频域转换以取得结构件的频域振动波形的多个模态的实际模态参数。接着,分别将该些模态的实际模态参数与数据库中的模态参数数据比对,以判断结构件是否存在劣化缺陷。在结构件存在劣化缺陷时,更判断劣化缺陷的程度与位置。其中模态参数数据包含结构件分别在多个位置具有不同程度的劣化缺陷的多组对照模态参数。
搜索关键词: 结构件 侦测 方法
【主权项】:
1.一种结构件的劣化侦测方法,其特征在于,包含:以设置于一结构件的一感测器侦测该结构件的一时域振动波形;以电连接该感测器的一处理器对该时域振动波形执行时频域转换以取得该结构件的一频域振动波形的多个模态的实际模态参数;分别将该些模态的实际模态参数与一数据库中的一模态参数数据比对,以判断该结构件是否存在一劣化缺陷;以及在判断该结构件存在该劣化缺陷时,更判断该劣化缺陷的程度与位置;其中该模态参数数据包含该结构件分别在多个位置具有不同程度的劣化缺陷的多组对照模态参数。
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