[发明专利]一种用于温度和应变测量的长周期光纤光栅的制作方法在审

专利信息
申请号: 201711430681.5 申请日: 2017-12-26
公开(公告)号: CN108152880A 公开(公告)日: 2018-06-12
发明(设计)人: 祝连庆;李达;何巍;张雯;娄小平;董明利;李红 申请(专利权)人: 北京信息科技大学
主分类号: G02B6/02 分类号: G02B6/02
代理公司: 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 代理人: 顾珊;庞立岩
地址: 100085 北京市海淀区清*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种用于温度和应变测量的长周期光纤光栅的制作方法包括:搭建长周期光纤光栅制作平台,在高精度三维运动平台上固定光纤夹具,将去除涂层的HI‑1060光纤固定在光纤夹具上;在光纤夹具正上方布置高反镜;飞秒激光依次穿过所述半波片、偏振片、衰减片和窗口,述高反镜反射后由45倍的显微物镜聚焦至所述光纤夹具上的HI‑1060光纤,对所述HI‑1060光纤划线刻写,得到光栅周期为200um,逐点划线间距为20um,单周期内刻写长度为100um,占空比为0.5的长周期光纤光栅;在所述高反镜正上方布置电荷耦合器件,所述电荷耦合器观测激光的聚焦位置和激光对所述夹具上HI‑1060光纤的加工形貌。本发明制作的长周期光纤光栅实现同时测量温度和应变,并保证了测量的精度。
搜索关键词: 长周期光纤光栅 温度和应变 光纤夹具 高反镜 测量 夹具 刻写 光纤 制作 激光 电荷耦合器件 三维运动平台 形貌 电荷耦合器 飞秒激光 固定光纤 光纤固定 光栅周期 聚焦位置 显微物镜 半波片 单周期 点划线 偏振片 衰减片 占空比 反射 划线 去除 观测 聚焦 穿过 加工 保证
【主权项】:
一种用于温度和应变测量的长周期光纤光栅的制作方法,其特征在于,所述方法包括:搭建长周期光纤光栅制作平台,所述制作平台包括800nm飞秒激光器、高精度三维运动平台、聚焦物镜和高反镜;在所述高精度三维运动平台上固定光纤夹具,将去除涂层的HI‑1060光纤固定在所述光纤夹具上;在所述光纤夹具正上方布置所述高反镜,在所述高反镜前端依次布置所述800nm飞秒激光器、半波片、偏振片、衰减片和用于激光穿过的窗口,所述800nm飞秒激光器以划线的方式发射飞秒激光,所述飞秒激光依次穿过所述半波片、偏振片、衰减片和窗口,经所述高反镜反射后由45倍的显微物镜聚焦至所述光纤夹具上的HI‑1060光纤,对所述HI‑1060光纤划线刻写,得到光栅周期为200um,逐点划线间距为20um,单周期内刻写长度为100um,占空比为0.5的长周期光纤光栅;在所述高反镜正上方布置电荷耦合器件,所述电荷耦合器观测激光的聚焦位置和激光对所述夹具上HI‑1060光纤的加工形貌。
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