[发明专利]高频信号线质量检测系统有效

专利信息
申请号: 201711431482.6 申请日: 2017-12-26
公开(公告)号: CN108152631B 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 罗震;王顺建 申请(专利权)人: 常熟市景弘盛通信科技股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01B21/10;G01R27/26
代理公司: 苏州国诚专利代理有限公司 32293 代理人: 刘彦
地址: 215500 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种高频信号线质量检测系统,高频信号线包括:导线及包覆于导线外部的绝缘层,高频信号线质量检测系统包括:导线外径测量装置、绝缘层外径测量装置、电容测量装置、检测显示装置;导线外径测量装置、绝缘层外径测量装置、电容测量装置分别与检测显示装置相连接,检测显示装置接收导线外径测量值、绝缘层外径测量值、电容测量值,检测显示装置根据接收的各测量值计算高频信号线的Delay值,检测显示装置对计算得到的Delay值与标准差进行比较,并将比较结果进行显示。本发明的高频信号线质量检测系统能够对生产的信号线缆进行实时检测,其有利于降低后工段的不良品,并降低成品中高频信号不良的信号线缆。
搜索关键词: 高频 信号线 质量 检测 系统
【主权项】:
一种高频信号线质量检测系统,所述高频信号线包括:导线及包覆于所述导线外部的绝缘层,其特征在于,所述高频信号线质量检测系统包括:导线外径测量装置、绝缘层外径测量装置、电容测量装置、检测显示装置;所述导线外径测量装置、绝缘层外径测量装置、电容测量装置分别与所述检测显示装置相连接,所述检测显示装置接收所述导线外径测量装置采集的导线外径测量值,所述检测显示装置接收所述绝缘层外径测量装置采集的绝缘层外径测量值,所述检测显示装置接收所述电容测量装置采集的电容测量值,所述检测显示装置根据接收的各测量值按照如下公式计算高频信号线的Delay值:<mrow><mi>&epsiv;</mi><mo>=</mo><mfrac><mrow><mi>C</mi><mo>*</mo><mi>l</mi><mi>o</mi><mi>g</mi><mrow><mo>(</mo><mfrac><mi>D</mi><mrow><mi>d</mi><mo>*</mo><mi>a</mi></mrow></mfrac><mo>)</mo></mrow></mrow><mn>24.13</mn></mfrac></mrow>其中,ε为高频信号线的Delay值,C为电容测量值,D为绝缘层外径测量值,d为导线外径测量值,a为导线绞合外径系数,所述检测显示装置对计算得到的Delay值与标准差进行比较,并将比较结果进行显示。
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