[发明专利]一种半导体的制作工艺在审
申请号: | 201711434191.2 | 申请日: | 2017-12-26 |
公开(公告)号: | CN109962007A | 公开(公告)日: | 2019-07-02 |
发明(设计)人: | 刘丽蓉 | 申请(专利权)人: | 东莞市广信知识产权服务有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/306 |
代理公司: | 深圳市智圈知识产权代理事务所(普通合伙) 44351 | 代理人: | 韩绍君 |
地址: | 523000 广东省东莞市松山湖高新*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体的制作工艺,包括如下步骤:S1、洁净室:将所有半导体制程设备,都必须安置在隔绝粉尘进入的密闭空间中,然后在密闭空间上开设进风窗和出风窗,并且进风窗表面装有过滤网,然后分别在进风窗和出风窗一端安装大型风扇,风扇运作可将密闭空间外的空气通过进风窗吸入密闭空间内,同时过滤网能防止粉尘的进入,然后密闭空间内的空气和灰尘在风扇的作用下也会从出风窗排出,从而可保证空间内的无尘性,同时也要保证粉尘的只出不进,并且也需要加装大型空调设备。与其它制作工艺技术相比,技术价格低廉、节约空间、工艺成熟,藉以改变蚀刻工艺,从而可保证蚀刻的完全性和均匀性,大大提高半导体的使用质量。 | ||
搜索关键词: | 密闭空间 进风窗 制作工艺 出风窗 半导体 粉尘 过滤网 风扇 半导体制程设备 蚀刻 大型空调设备 大型风扇 技术价格 节约空间 空气通过 蚀刻工艺 洁净室 均匀性 保证 加装 排出 无尘 吸入 安置 成熟 运作 | ||
【主权项】:
1.一种半导体的制作工艺,其特征在于:包括如下步骤:S1、洁净室:将所有半导体制程设备,都必须安置在隔绝粉尘进入的密闭空间中,然后在密闭空间上开设进风窗和出风窗,并且进风窗表面装有过滤网,然后分别在进风窗和出风窗一端安装大型风扇,风扇运作可将密闭空间外的空气通过进风窗吸入密闭空间内,同时过滤网能防止粉尘的进入,然后密闭空间内的空气和灰尘在风扇的作用下也会从出风窗排出,从而可保证空间内的无尘性,同时也要保证粉尘的只出不进,并且也需要加装大型空调设备,以保证密闭空间内的温度与湿度的恒定;S2、制片:将晶棒固定在工作台上,用打磨机对其进行加工修边,然后以X光绕射法,定出主切面的所在,在用打磨机磨出该平面,然后再以内刃环锯削下一片片的硅晶圆,然后将硅晶圆固定在工作台上,用高速旋转的砂轮对硅晶圆经过打磨,然后再用抛光机对打磨后的硅晶圆进行拋光处理,最后得出表面粗糙度在0.3微米以下拋光面之晶圆;S3、清洗:将磁力搅拌器的清洗槽内倒入EKC溶液和水,再将晶圆放置在清洗槽内,再打开磁力搅拌器,可去除晶圆表面的化合物,然后再用异丙醇去除残留在晶圆表面的EKC溶液,清洗结束后废液会从清洗槽一侧的水管流入回收箱内,最后再用烘干机对晶圆进行干燥;S4、曝光:将适量光阻滴上晶圆中心,而晶圆是置于光阻涂布机工作台的真空吸盘上,转盘以每分钟数干转之转速,旋转30‑60秒,使光阻均匀涂布在晶圆上,转速与旋转时间,依所需光阻厚度而定,同时晶圆位于紫外灯下方,紫外光通过光罩照射于光阻上,而在光照及阴影处产生相对应的图形,而受光照射的地方,光阻的溶解率产生变化,故晶圆曝照于紫外光中,会使得光阻的溶解率改变;S5、显影:将曝光后的晶圆放置在磁力搅拌器的清洗槽内,然后倒入显影剂,同时打开磁力搅拌器,磁力搅拌器会使清洗槽内的溶液产生搅拌,从而对晶圆的表面进行清洗,将光阻高溶解率的部分进行清除,清洗结束后,将废液从清洗槽的一侧排入回收箱内,最后再用烘干机对晶圆进行干燥;S6、蚀刻:将显影后的晶圆放置在磁力搅拌器的清洗槽内,倒入蚀刻液,同时打开磁力搅拌器,磁力搅拌器会使清洗槽内的溶液产生搅拌,蚀刻液则与晶圆表面的光阻充分接触,并且搅动可加速气泡从晶圆表面的的脱离,同时清洗槽外壁的加热块可对蚀刻液进行加热,从而用蚀刻液去除晶圆未受光阻保护的晶圆部份,而受光阻保护部份,则未受蚀刻,最后,光阻被去除,而晶圆上则保有被制的图案,最后再对晶圆的表面进行烘干处理;S7、掺杂:将晶圆固定在离子注入机的工作台上,高能离子束轰击晶圆表面,在掺杂窗口处,杂质离子被注入晶圆本体,在其他部位,杂质离子被晶圆表面的保护层屏蔽,完成选择掺杂的过程。S8、制膜:将晶圆放置在真空箱内,再用晶圆夹对晶圆进行固定,然后将真空箱内抽成真空状态,然后利用氩气电浆,高速冲击受镀靶材,因而将靶材表面附近材质喷溅出来,落至晶圆之上,从而完成制膜。S9、构装:利用塑胶或陶瓷对晶圆进行包装。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造