[发明专利]单个纳米粒子的电化学阻抗谱测定装置及方法

摘要

本发明公开了单个纳米粒子的电化学阻抗谱测定装置及方法，所述装置包括：单色激光调节模块，用于将单色激光引入暗场成像中并调节所述单波长的范围；粒子激发模块，与所述单色激光调节模块连接，用于激发具有局域等离子共振的贵金属的单个纳米粒子的散射共振，包括平凸透镜和电化学池；电压施加模块，与所述粒子激发模块连接，用于给所述电化学池施加周期性调制电压；粒子散射强度检测模块，与所述电压施加模块和粒子激发模块相连接，包括锁相放大器和光电倍增管；本发明将单色激光引入暗场成像中，在检测器方面将光电倍增管配备锁相放大器，这使得可以在电压调制下通过直接检测单个纳米粒子的散射强度值变化，获得单个纳米粒子的电化学阻抗谱。

主权项

1.一种单个纳米粒子的电化学阻抗谱测定装置，其特征在于，包括：单色激光调节模块(1)，包括单色激光光源(11)和声光可调滤波器(12)，用于将单色激光引入暗场成像中并调节所述单波长的范围；粒子激发模块(2)，与所述单色激光调节模块(1)连接，用于激发具有局域等离子共振的贵金属的单个纳米粒子的散射共振，包括平凸透镜(21)和电化学池(22)；电压施加模块(3)，与所述粒子激发模块(2)连接，用于给所述电化学池(22)施加周期性调制电压；粒子散射强度检测模块(4)，与所述电压施加模块(3)和粒子激发模块(2)相连接，用于记录在不同电压调制频率下所述贵金属的单个纳米粒子的散射强度幅值与其对应的相位信息，获得所述单个纳米粒子的电化学阻抗谱，包括锁相放大器(41)和光电倍增管(42)。