[发明专利]存储器完整性的检验方法、非易失性存储器以及电子装置有效
| 申请号： | 201711440910.1 | 申请日： | 2017-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN109979519B | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 叶润林 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马雯雯;臧建明 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器完整性的检验方法、非易失性存储器以及电子装置。所述方法包括下列步骤。获得非易失性存储器中至少一待检验存储单元的阀值电压。将读取电压以及所述阀值电压进行比对来判断所述至少一待检验存储单元所属的数据值。当确认所述至少一待检验存储单元所属的所述数据值后，依据所述数据值来设定预设电压。将所述预设电压与所述至少一待检验存储单元的所述阀值电压进行比对而获得所述至少一待检验存储单元的偏移数据值。以及，判断所述至少一待检验存储单元所属的所述数据值以及所述偏移数据值是否相同，从而判定所述至少一待检验存储单元的完整性是否有缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 完整性 检验 方法 非易失性存储器 以及 电子 装置 | ||
【主权项】：
1.一种存储器完整性的检验方法，其特征在于，包括：获得非易失性存储器中至少一待检验存储单元的阀值电压；将读取电压以及所述阀值电压进行比对来判断所述至少一待检验存储单元所属的数据值；当确认所述至少一待检验存储单元所属的所述数据值后，依据所述数据值来设定预设电压；将所述预设电压与所述至少一待检验存储单元的所述阀值电压进行比对而获得所述至少一待检验存储单元的偏移数据值；以及判断所述至少一待检验存储单元所属的所述数据值以及所述偏移数据值是否相同，从而判定所述至少一待检验存储单元的完整性是否有缺陷。
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