[发明专利]基于HVA配向系统的电压测量治具在审
申请号: | 201711447516.0 | 申请日: | 2017-12-27 |
公开(公告)号: | CN108107262A | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 刘小成;尹凤鸣 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25 |
代理公司: | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人: | 孙伟峰;武岑飞 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于HVA配向系统的电压测量治具,所述HVA配向系统包括电源及与电源相连的印加电冶具,所述印加电冶具上包括若干探针,所述电压测量治具包括:电压信号接收部,所述电压信号接收部上设有若干导电部,所述导电部与探针一一对应设置;电压信号显示部,包括若干电性连接于导电部之间的电压测量元件,以测量与对应的导电部相连的探针之间电压是否异常。本发明的电压测量治具通过电压信号接收部与印加电冶具上的探针电性连接,电压信号显示部中的电压测量元件能够测量探针之间电压是否异常,每次可测量一个基板上的多个HVA信号,大大降低了测量时间,提高了测量效率。 | ||
搜索关键词: | 电压测量 导电部 探针 治具 电压信号接收 配向 电压测量元件 电性连接 电压信号 电源 测量 一一对应设置 测量探针 测量效率 可测量 基板 | ||
【主权项】:
1.一种基于HVA配向系统的电压测量治具,所述HVA配向系统包括电源及与电源相连的印加电冶具,所述印加电冶具上包括若干探针,其特征在于,所述电压测量治具包括:电压信号接收部,所述电压信号接收部上设有若干导电部,所述导电部与探针一一对应设置;电压信号显示部,包括若干电性连接于导电部之间的电压测量元件,以测量与对应的导电部相连的探针之间电压是否异常。
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