[发明专利]一种多个晶体管模块单元测试结构的自动化布局布线在审
| 申请号： | 201711454488.5 | 申请日： | 2017-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109977439A | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 沈立;陆宇;周润宝;沈金龙;程玉华 | 申请（专利权）人： | 上海卓弘微系统科技有限公司;上海芯哲微电子科技股份有限公司;上海北京大学微电子研究院 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201399 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种多个晶体管模块单元测试结构的自动化布局布线，以减小版图的面积，提高绘制测试结构版图的效率，改善结构的稳定性，其中所述的引入参数的晶体管模块单元，是由若干个晶体管组成测试结构。所述模块单元提供控制晶体管个数、栅长、栅宽、叉指数等四组参数，修改所述的四组参数，可以调整晶体管的数量和尺寸，模块内部将自动做出相应调整，仍然保持匹配连接关系。所述模块单元中，引出四条金属线，供模块单元与衬垫(PAD)连接。所述测试结构，可以随时调整它的衬垫间距，根据实际版图允许面积，优化与测试晶体管的匹配精确度。所述测试结构，采用完全的上下对称的版图结构，被测晶体管独立引出源(S)、漏(D)衬垫；而栅(G)、衬底(Sub)为所有晶体管共用。所述自动化方法，智能地将被测试晶体管与所对应的衬垫相连接完成布局布线。所述自动化方法，大规模地降低了新工艺下晶体管测试电路与测试结构的实现复杂度，缩短了完成时间，并提高了可靠度。 | ||
| 搜索关键词： | 测试结构 晶体管模块 模块单元 布线 测试晶体管 自动化布局 单元测试 组参数 晶体管 自动化 测试结构版图 调整晶体管 晶体管测试 晶体管共用 控制晶体管 版图结构 匹配连接 上下对称 复杂度 金属线 可靠度 新工艺 衬底 减小 栅长 栅宽 匹配 电路 绘制 智能 引入 优化 | ||
【主权项】：
1.一种晶体管参数化模块单元，由若干个晶体管组成，其特征在于，所述模块单元提供控制晶体管个数的参数，修改所述的参数，可以调整晶体管的个数，内部将自动做出相应调整，将晶体管按纵向的方向排列。
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