[发明专利]一种低单粒子敏感性的抗SEU存储单元电路有效

专利信息
申请号: 201711457440.X 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN108766492B 公开(公告)日: 2021-02-23
发明(设计)人: 胡春艳;陆时进;李阳;刘琳;张晓晨 申请(专利权)人: 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
主分类号: G11C11/417 分类号: G11C11/417
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 胡健男
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种低单粒子敏感性的抗SEU存储单元电路,包括:存储电路、反馈电路和存取电路;存储电路用于存储抗SEU存储单元电路的数据信息,反馈电路能够在存储电路发生翻转后进行反馈,恢复存储电路的数据信息,存取电路用于外部对抗SEU存储单元电路的读写操作访问。针对低纳米工艺下的单粒子翻转问题,该结构保证了至少两个节点不发生翻转,并通过反馈回路将翻转节点恢复,实现了单节点翻转(SE‑SNU)全加固能力。当发生多节点翻转时,考虑两节点发生电荷共享效应被打翻而使得单元翻转的情况,电路具有更少的敏感节点对,是常用加固结构DICE单元敏感节点对数的一半,具有更低的单粒子敏感性,可有效缓解单粒子多节点翻转问题,提高单元的抗辐射能力。
搜索关键词: 一种 粒子 敏感性 seu 存储 单元 电路
【主权项】:
1.一种低单粒子敏感性的抗SEU存储单元电路,其特征在于,包括:存储电路、反馈电路和存取电路;存储电路用于存储抗SEU存储单元电路的数据信息,反馈电路能够在抗SEU存储单元电路的存储电路发生翻转后进行反馈,恢复存储电路的数据信息,存取电路用于外部对抗SEU存储单元电路的读写操作访问。
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