[发明专利]伺服系统的性能指标检测方法及计算机存储介质有效
| 申请号： | 201711460125.2 | 申请日： | 2017-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109976300B | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 卢红星 | 申请（专利权）人： | 上海铼钠克数控科技有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 胡美强;李梦男 |
| 地址： | 200241 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种伺服系统的性能指标检测方法及计算机存储介质。所述伺服系统包括至少一伺服电机，性能指标检测方法包括：在接收到检测指令时，对每个伺服电机依次进行以下测试中的至少两种：阶跃响应测试、抛物线响应测试、闭环频率响应测试和圆度响应测试。本发明实现了自动对伺服系统中的每个伺服电机进行性能指标测试，减轻了测试人员的负担，大大提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 伺服系统 性能指标 检测 方法 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种伺服系统的性能指标检测方法，所述伺服系统包括至少一伺服电机，其特征在于，在接收到检测指令时，对每个伺服电机依次进行以下测试中的至少两种：阶跃响应测试、抛物线响应测试、闭环频率响应测试和圆度响应测试。
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