[发明专利]一种闪存测试设备和方法有效
申请号: | 201711462901.2 | 申请日: | 2017-12-28 |
公开(公告)号: | CN108346453B | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | 蔡德智;王永成;韩飞 | 申请(专利权)人: | 北京兆易创新科技股份有限公司;合肥格易集成电路有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56;G06F11/22 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 莎日娜 |
地址: | 100083 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种闪存测试设备和方法。所述闪存测试设备分别与终端和闪存连接,所述闪存测试设备包括数据发生器、缓存器和数据比对器;所述数据发生器,用于根据所述终端发送的控制指令产生第一数据;所述缓存器,用于根据所述控制指令读取所述闪存中的第二数据,以及存储所述第一数据和所述第二数据;所述数据比对器,用于比对所述第一数据和所述第二数据,并将比对结果反馈至所述终端。本发明实施例提高了传输效率,缩短了闪存的测试时间。 | ||
搜索关键词: | 一种 闪存 测试 设备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种闪存测试设备,其特征在于,所述闪存测试设备分别与终端和闪存连接,所述闪存测试设备包括数据发生器、缓存器和数据比对器;所述数据发生器,用于根据所述终端发送的控制指令产生第一数据;所述缓存器,用于根据所述控制指令读取所述闪存中的第二数据,以及存储所述第一数据和所述第二数据;所述数据比对器,用于比对所述第一数据和所述第二数据,并将比对结果反馈至所述终端。
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