[发明专利]制备大面积单一取向六方氮化硼二维原子晶体的方法有效

专利信息
申请号: 201711467108.1 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN108193276B 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 孟军华;张兴旺;尹志岗;吴金良 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: C30B29/40 分类号: C30B29/40;C30B29/64;C30B23/02;C23C14/02;C23C14/06;C23C14/34
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤宝平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种制备大面积单一取向六方氮化硼二维原子晶体的方法,其包括如下步骤:在氧化镁MgO(111)单晶衬底上外延一预定厚度的过渡金属单晶薄膜,形成样品;将样品置于离子束溅射沉积系统的腔室内,抽真空,然后在氢气气氛中升温并原位退火;关闭氢气,使离子束溅射沉积系统内的腔室恢复至真空环境,然后向腔室内通入氩气;利用离子源轰击置于离子束溅射沉积系统腔室内的高纯氮化硼靶材,使得溅射的硼、氮原子在样品表面沉积,生长形成六方氮化硼二维原子晶体;降温,最终得到单一取向的六方氮化硼单晶畴。本发明可以制备出单一取向的h‑BN晶畴,具有制备工艺简单,可控性好,成本低,且副产物无毒无害,有助于实现制备大尺寸、高质量h‑BN薄膜。
搜索关键词: 制备 大面积 单一 取向 氮化 二维 原子 晶体 方法
【主权项】:
1.一种制备大面积单一取向六方氮化硼二维原子晶体的方法,其包括如下步骤:步骤1、在氧化镁MgO(111)单晶衬底上外延一预定厚度的过渡金属单晶薄膜,形成样品;步骤2、将样品置于离子束溅射沉积系统的腔室内,抽真空,然后在氢气气氛中升温并原位退火;步骤3、关闭氢气,使离子束溅射沉积系统内的腔室恢复至真空环境,然后向腔室内通入氩气;步骤4、利用离子源轰击置于离子束溅射沉积系统腔室内的高纯氮化硼靶材,使得溅射的硼、氮原子在样品表面沉积,生长形成六方氮化硼二维原子晶体;步骤5、降温,最终得到单一取向的六方氮化硼单晶畴。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711467108.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top