[发明专利]一种星载大孔径静态干涉光谱成像仪干涉图采样方法有效
| 申请号： | 201711467125.5 | 申请日： | 2017-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN107957296B | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 刘强;赵强;孙剑;张昕;郝雄波;张志军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01J3/28;G01J3/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王少文 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种星载大孔径静态干涉光谱成像仪干涉图采样方法。本发明针对大孔径静态干涉光谱成像技术原理特点，提出了降低干涉图采样频率、探测器倍频采样的干涉图采样方法。本发明解决了大孔径静态干涉光谱成像仪在高空间分辨率成像时由于瞬时视场角降低，使得系统入射能量降低，导致系统信噪比降低的技术问题，实现了同一目标积分时间延长的效果，从而提高了系统信噪比。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 星载大 孔径 静态 干涉 光谱 成像 采样 方法 | ||
【主权项】：
一种星载大孔径静态干涉光谱成像仪干涉图采样方法，其特征在于，包括以下步骤：1)将目标信号在平行光路中用分束器分成两束完全相干的光线，然后对两束光线通过成像镜进行干涉成像，产生目标干涉信号；所述分束器为横向剪切分束器，分束器的横向剪切量d满足单边采样点数为2t，其中：t为光谱分辨率要求的目标干涉图像单边采样点数；2)使用光电探测器采集步骤1所产生的目标干涉信号，经模数转换获得目标干涉图像；3)将光电探测器输出第2a帧图像中第2b‑1行数据与第2a‑1帧中第2b行数据相加，其中a、b均为大于等于1的自然数；4)将光电探测器输出第2a帧图像中第2b行数据与第2a+1帧中第2b‑1行数据相加。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所，未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711467125.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
