[发明专利]一种相控阵超声检测能力验证试块组及其使用方法

摘要

本发明涉及无损检测技术，具体涉及一种相控阵超声检测能力验证试块组以及使用方法，其包括YZ‑Ⅰ型、YZ‑Ⅱ型、YZ‑Ⅲ型、YZ‑Ⅳ型和YZ‑Ⅴ型共五个试块且其厚度依次分别对应为4mm、8mm、15mm、20mm和40mm。每个试块上根据厚度设置有数个横通孔以及一对刻槽，提高检测的可靠性。

主权项

一种相控阵超声检测能力验证试块组，其特征在于：包括YZ‑Ⅰ型、YZ‑Ⅱ型、YZ‑Ⅲ型、YZ‑Ⅳ型和YZ‑Ⅴ型共五个试块且其厚度依次分别对应为4mm、8mm、15mm、20mm和40mm；所述YZ‑Ⅰ型试块：其长度100mm、宽度30mm、厚度4mm，该YZ‑Ⅰ型试块左端设有一个横通孔（1），YZ‑Ⅰ型试块右端上表面和下表面对称分别设有一个单边V型坡口刻槽（2、3）；所述YZ‑Ⅱ型试块：其长度100mm、宽度30mm、厚度8mm，该YZ‑Ⅱ型试块左端有两个平行的横通孔（7、8），YZ‑Ⅱ型试块右端上表面和下表面对称分别设有一个单边V型坡口刻槽（4、5），两个所述刻槽（4、5）连线的中点位置处设有一个横通孔（6）；所述YZ‑Ⅲ型试块：其长度140mm、宽度30mm、厚度15mm，该YZ‑Ⅲ型试块的左端有三个横通孔（12、13、14），其中横通孔（12）圆心与YZ‑Ⅲ型试块的左端边缘的距离为58mm，所述横通孔（13）与横通孔（12）的圆心的间距为4mm且均距离YZ‑Ⅲ型试块上表面为10mm，所述横通孔（13）和横通孔（14）的圆心连线与垂直中分面的夹角为30°；该YZ‑Ⅲ型试块右端的上表面和下表面对称设有一单边V型坡口刻槽（9、10），两个所述刻槽（9、10）连线中点位置设有一上一下两个横通孔（11）；横通孔14距离试块上表面5mm。所述YZ‑Ⅳ型试块：其长度140mm、宽度30mm、试块厚度20mm，该YZ‑Ⅳ型试块的上表面和下表面对称设有一单边V型坡口刻槽（15、16），两个所述刻槽（15、16）的连线中点位置设有上下分布的三个横通孔（17）；该YZ‑Ⅳ型试块的的左端有四个横通孔（18、19、20、21），其他三个横通孔（19、20、21）的圆心连线与垂直中分面夹角为30°；所述YZ‑Ⅴ型试块：其长度180mm、宽度30mm、试块厚度40mm，YZ‑Ⅴ型试块右端的上表面和下表面对称设有有一单边V型坡口刻槽（22、23），所述刻槽（22、23）中点位置设有上下分布的三个横通孔（24）；YZ‑Ⅴ型试块左端有四个横通孔（25、26、27、28），其中两个横通孔（25、26）左右分布且圆心共线、另外两个横通孔（27、28）圆心连线相对于水平面倾斜设置且三个横通孔（26、27、28）圆心共线；三个横通孔（26、27、28）的圆心连线与垂直中分面夹角为10°。