[发明专利]一种利用点激光对工件特定位置参数进行测量的方法在审

专利信息
申请号: 201711482037.2 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN108151649A 公开(公告)日: 2018-06-12
发明(设计)人: 彭伟;徐年丰;诸浩富;王凯 申请(专利权)人: 上海华太信息技术有限公司;上海华太数控技术有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 上海湾谷知识产权代理事务所(普通合伙) 31289 代理人: 李晓星
地址: 201801 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种利用点激光对工件特定位置参数进行测量的方法,包括:校准四轴机器人的工件中心坐标原点;确定同轴点激光传感器和四轴机器人之间的对应位置,得到两者之间的仿射变换矩阵;通过四轴机器人的控制器示教待测工件上的各个特定位置,并根据仿射变换矩阵计算仿射变换后的坐标;通过同轴点激光传感器的控制器在待测工件的各个特定位置调试并设定点激光的参数;四轴机器人携带同轴点激光传感器依次运动到待测工件的各个特定位置,分别测量并得到各个特定位置的参数。本发明具有较高的测量精度和稳定性,同时不存在测量盲区。
搜索关键词: 四轴机器人 激光传感器 待测工件 测量 同轴 仿射变换矩阵 激光 位置参数 控制器 测量盲区 仿射变换 工件中心 位置调试 坐标原点 校准 示教 携带
【主权项】:
一种利用点激光对工件特定位置参数进行测量的方法,基于携带同轴点激光传感器的四轴机器人,其特征在于,所述方法包括:校准四轴机器人的工件中心坐标原点;确定同轴点激光传感器和四轴机器人之间的对应位置,得到两者之间的仿射变换矩阵;通过四轴机器人的控制器示教待测工件上的各个特定位置,并根据仿射变换矩阵计算仿射变换后的坐标;通过同轴点激光传感器的控制器在待测工件的各个特定位置调试并设定点激光的参数;四轴机器人携带同轴点激光传感器依次运动到待测工件的各个特定位置,分别测量并得到各个特定位置的参数。
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