[发明专利]针对电荷型SAR-ADC寄生电容的校准方法有效
申请号: | 201711483390.2 | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN108365847B | 公开(公告)日: | 2020-09-01 |
发明(设计)人: | 杨小坤;张海峰;原义栋;胡毅;何洋;李振国;靳嘉桢 | 申请(专利权)人: | 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司;国家电网有限公司 |
主分类号: | H03M1/14 | 分类号: | H03M1/14 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 王崇 |
地址: | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明公开了一种针对电荷型SAR‑ADC寄生电容的校准方法,所述电荷型SAR‑ADC包括LSB电容阵列,将LSB电容阵列的所有上极板与第一补偿电路的一端相连,第一补偿电路的另一端接任意恒定电位,第一补偿电路由第一固定电容C |
||
搜索关键词: | 针对 电荷 sar adc 寄生 电容 校准 方法 | ||
【主权项】:
1.一种针对电荷型SAR‑ADC寄生电容的校准方法,所述电荷型SAR‑ADC包括LSB电容阵列,其特征在于,将所述LSB电容阵列的所有上极板与第一补偿电路的一端相连,所述第一补偿电路的另一端接任意恒定电位,所述第一补偿电路由第一固定电容Cdl和第一可调电容Cdl'并联组成,通过调节所述第一补偿电路来调节SAR‑ADC的非线性误差,所述LSB电容阵列中单位电容值为Cu,共L位,从低位到高位分别以2倍的关系递增,最高位电容值为2L‑1Cu,且当所述LSB电容阵列的总电容值为CLt时,则如下关系式成立:CLt=(2L‑1)·Cu+Cdl+Cdl'。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司;国家电网有限公司,未经北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司;国家电网有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711483390.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。