[发明专利]一种基于VAI表面检测系统的缺陷图片分类收集方法有效
| 申请号： | 201711483556.0 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108242053B | 公开（公告）日： | 2020-12-01 |
| 发明（设计）人： | 张悦;杨国义;唐璇;毕士龙;胡茂林 | 申请（专利权）人： | 武汉钢铁有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/62;G06F16/583 |
| 代理公司： | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人： | 刘杰 |
| 地址： | 430080 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于带钢表面检测技术领域，公开了一种基于VAI表面检测系统的缺陷图片分类收集方法，包括：基于缺陷图片的第一属性特征值，在待分类图片中筛查满足第一属性特征值范围的第一缺陷图片组；基于缺陷图片的第二属性特征值，在第一缺陷图片组中筛查满足第二属性特征值范围的初分类缺陷图片，第一属性特征值包括：缺陷面积、缺陷长度以及缺陷宽度；第一属性特征值范围包括：缺陷面积范围，缺陷长度范围以及缺陷宽度范围；第二属性特征值包括：平均灰度值和灰度值标准差；第二属性特征值范围包括：平均灰度值范围和灰度值标准差范围；第一属性特征值范围和第二属性特征值范围根据具体缺陷类别确定。本发明提供一种可靠的分类收集缺陷图片的方法。 | ||
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【主权项】：
1.一种基于VAI表面检测系统的缺陷图片分类收集方法，其特征在于，包括：基于缺陷的第一属性特征值，在待分类图片中筛查满足第一属性特征值范围的第一缺陷图片组；基于缺陷的第二属性特征值，在所述第一缺陷图片组中筛查满足第二属性特征值范围的初分类缺陷图片；其中，所述第一属性特征值包括：缺陷面积、缺陷长度以及缺陷宽度；所述第一属性特征值范围包括：缺陷面积范围，缺陷长度范围以及缺陷宽度范围；仅当待分类图片的缺陷面积、缺陷长度以及缺陷宽度对应落在缺陷面积范围，缺陷长度范围以及缺陷宽度范围内的情况下，认定待分类缺陷图片属于第一缺陷图片组；所述第二属性特征值包括：平均灰度值和灰度值标准差；所述第二属性特征值范围包括：平均灰度值范围和灰度值标准差范围；仅当待分类图片的平均灰度值和灰度值标准差对应落在平均灰度值范围和灰度值标准差范围内的情况下，认定待分类缺陷图片属于初分类缺陷图片；所述第一属性特征值范围和所述第二属性特征值范围根据具体缺陷类别确定。
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