[发明专利]显示面板不良的解析方法在审
| 申请号： | 201711488759.9 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN107978262A | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | 薛永涛;蔡荣茂;庄益壮 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司44304 | 代理人： | 孙伟峰,武岑飞 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 提供了一种显示面板不良的解析方法，所述解析方法包括观察显示面板上是否存在显示异常的压面线，如果存在显示异常的压面线，则通过对显示面板上的压面线进行镭射来对造成压面线的异物进行初步定位。所述解析方法能够减少解析过程中所花费的时间，降低解析失败概率，同时提高解析准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 面板 不良 解析 方法 | ||
【主权项】：
一种显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述解析方法包括：观察显示面板上是否存在显示异常的压面线，如果存在显示异常的压面线，则通过对显示面板上的压面线进行镭射来对造成压面线的异物进行初步定位。
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