[发明专利]一种双基线欺骗干扰检测算法的性能分析方法有效

专利信息
申请号: 201711494740.5 申请日: 2017-12-31
公开(公告)号: CN108196270B 公开(公告)日: 2021-09-21
发明(设计)人: 陈帅;张博雅;蒋长辉;樊龙江;陈德潘;韩林;朱晓晗;王琛;谭聚豪;顾得友 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01S19/21 分类号: G01S19/21
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱显国
地址: 210094 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种双基线欺骗干扰检测算法性能分析方法,首先将两条基线S1、S2长度假设为高斯分布;然后建立欺骗检测的判断函数,使欺骗与未欺骗结果不同;接着根据判断函数,通过假设检验,建立性能分析数学模型;最后通过模型得到算法检测概率,确定双基线欺骗干扰测试方法性能。本发明在设定漏检率Pfa的情况下,通过判断Pd大小,就可以判断双基线欺骗干扰检测算法的性能,分析方法简单,分析速度快,为不同环境下双基线欺骗干扰检测算法的参数设置提供了理论依据。
搜索关键词: 一种 基线 欺骗 干扰 检测 算法 性能 分析 方法
【主权项】:
1.一种双基线欺骗干扰检测算法的性能分析方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、条件假设:将两条基线S1、S2长度假设为高斯分布;步骤2:判断函数:建立欺骗检测的判断函数,使欺骗与未欺骗结果不同;步骤3、性能分析模型:根据判断函数,通过假设检验,建立性能分析数学模型;步骤4、分析性能:通过模型得到算法检测概率,确定双基线欺骗干扰测试方法性能。
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