[实用新型]三层氮化硅薄膜电池片有效
申请号: | 201720013473.4 | 申请日: | 2017-01-06 |
公开(公告)号: | CN206301809U | 公开(公告)日: | 2017-07-04 |
发明(设计)人: | 范启超;徐兆远 | 申请(专利权)人: | 浙江晶能光电有限公司 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/0224;H01L31/0445 |
代理公司: | 嘉兴永航专利代理事务所(普通合伙)33265 | 代理人: | 蔡鼎 |
地址: | 314406 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种三层氮化硅薄膜电池片。它解决了现有电池片中反折射膜采用双层结构,太阳光反射量大,光电转换效率低等技术问题。本三层氮化硅薄膜电池片,包括硅片,硅片的正面涂覆有三层减反射膜,三层减反射膜均为氮化硅膜,三层减反射膜包括由下至上分布的第一层膜、第二层膜和第三层膜,第一层膜覆盖于硅片的正面,第一层膜的厚度为8‑12nm,第二层膜覆盖于第一层膜的上表面,第二层膜的厚度为13‑17nm,第三层膜覆盖于第二层膜的上表面,第三层膜的厚度为53‑57nm,第一层膜、第二层膜和第三层膜三者的总厚度为80nm;三层减反射膜的上表面印有主栅线和次栅线,主栅线的两端开设有镂空凹槽,硅片的背面印有背电极。本实用新型具有光电转换效率高的优点。 | ||
搜索关键词: | 三层 氮化 薄膜 电池 | ||
【主权项】:
三层氮化硅薄膜电池片,包括硅片,其特征在于,所述硅片的正面涂覆有三层减反射膜,三层减反射膜均为氮化硅膜,三层减反射膜包括由下至上分布的第一层膜、第二层膜和第三层膜,第一层膜覆盖于硅片的正面,第一层膜的厚度为8‑12nm,第二层膜覆盖于第一层膜的上表面,第二层膜的厚度为13‑17nm,第三层膜覆盖于第二层膜的上表面,第三层膜的厚度为53‑57nm,第一层膜、第二层膜和第三层膜三者的总厚度为80nm;所述三层减反射膜的上表面印有主栅线和次栅线,主栅线的两端开设有镂空凹槽,镂空凹槽槽宽为主栅线线宽的2/3,镂空凹槽槽深为主栅线长度的1/12,硅片的背面印有背电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的