[实用新型]一种纳米激光粒度分布测定仪有效

专利信息
申请号: 201720156834.0 申请日: 2017-02-21
公开(公告)号: CN206557055U 公开(公告)日: 2017-10-13
发明(设计)人: 陈利;张浩;蒙国明;高锡才 申请(专利权)人: 天津南开和成科技有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300000 天津市滨*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型提供一种纳米激光粒度分布测定仪,其特征在于所述纳米激光粒度分布测定仪采用采用面阵图像传感器作为测量元件,在所述面阵图像传感器下布置显微物镜,所述显微物镜的焦面上置有样品池,样品池下置有激光源,所述激光源通过固定座设置于一导轨上,所述导轨为半圆形导轨,内部设有第一腔体;所述固定座通过第一套孔套装于所述导轨的第一侧,通过所述固定座,所述激光源可以沿所述导轨以5‑90度的θ角入射到所述样品池上。
搜索关键词: 一种 纳米 激光 粒度 分布 测定
【主权项】:
一种纳米激光粒度分布测定仪,其特征在于:所述纳米激光粒度分布测定仪采用采用面阵图像传感器作为测量元件,在所述面阵图像传感器下布置显微物镜,所述显微物镜的焦面上置有样品池,样品池下置有激光源,所述激光源通过固定座设置于一导轨上,所述导轨为半圆形导轨,内部设有第一腔体;所述固定座通过第一套孔套装于所述导轨的第一侧,通过所述固定座,所述激光源可以沿所述导轨以5‑90度的θ角入射到所述样品池上。
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